お知らせ・新着情報

2017.08.28

9月3日(日)の全学停電により,一部の機器がご利用できません。詳細は予約表でご確認下さいますようお願いいたします。

 

2017.05.30

「クライオ走査型電子顕微鏡の基本的な操作法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。

 

2017.05.26

「超薄・準超薄切片作製法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。

 

2017.02.07

利用案内_機器リスト2(超解像顕微鏡等)の超解像顕微鏡(Leica TCS SP8 STED 3X)と共焦点レーザー顕微鏡(Leica TCS SP5)の主なスペック欄に対物レンズの仕様を記載しました。

 

機器リスト1(電子顕微鏡)      ▶▶▶ リスト2へ   ▶▶▶ リスト3へ

画像をクリックすると拡大表示(主なスペック記載)されます。

300kV電界放射型透過型電子顕微鏡 日本電子 JEM-3200FS

電界放射型電子銃を搭載した加速電圧300kVの電子顕微鏡。ボトムマウントの2k x 2kのCMOSカメラを搭載。加速電圧100kVでの使用が可能。インカラム方式のエネルギーフィルターによる厚い試料の画像の鮮明化が可能。試料を三次元的に再構成する電子線トモグラフィーが可能。

 

担当 伊藤利章

200kV透過型電子顕微鏡 日本電子 JEM-2100

加速電圧200kVの透過型電子顕微鏡。サイドマウントの2k x 2kのCCDカメラを搭載。加速電圧80kVでの使用が可能。試料を三次元的に再構成する電子線トモグラフィーが可能。

 

担当 伊藤利章

クライオ高分解能走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-6701F

電界放射型電子銃を採用した高分解能な走査型電子顕微鏡。試料ステージ冷却(-180℃程度)による,凍結状態の試料観察が可能。クライオユニット内での凍結割断,マグネトロン方式のイオンスパッタリングが可能。

 

担当 安井雅範

高分解能走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-6301F

電界放射型電子銃を採用した高分解能な走査型電子顕微鏡。PC接続によるフィルムレス。

 

担当 安井雅範

低真空走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-5310LV

熱電子銃を搭載した汎用性の高い走査型電子顕微鏡。反射電子検出器による低真空下での観察が可能,非導電性試料をそのまま観察可能。PC接続によるフィルムレス。

 

担当 安井雅範

機器の故障・メンテ情報等

 

2017.11.15

11月29日(水),共焦点レーザー顕微鏡(TCS SP5)は,保守点検のため利用できません。

 

2017.09.28

10月中旬〜下旬の期間,透過・走査型電子顕微鏡の保守整備のため,対象機器の利用ができません。詳細なスケジュールは予約表1をご覧ください。

 

2017.07.25

8月1日(火)午後,共焦点レーザー顕微鏡(TCS SP5)は,検出器の点検作業のため利用できません。

 

 

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