お知らせ・新着情報

2018.04.03

利用申請書・技術支援依頼書フォームは,記入例と同一ファイルにしました。一緒にダウンロード(1ページは申請書・依頼書フォーム,2ページは記入例)されます。

 

2018.03.30

もうすぐ新年度です。新年度,当施設を利用される方(継続利用者を含む。)は,新たに利用申請書をご提出下さい。年度内の利用実績がない場合でも,登録料(20,000円,他学部等は40,000円)はお収めいただきますので,利用確定後に申請されますようお願いいたします。

 

2017.11.27

当センターの年末年始の利用は次の通りです。

今年の利用は,12月28日(木)17:00までです。来年の利用は,1月4日(木)9:00からです。閉鎖中,各機器の停止状態により,利用開始時間が異なりますので,詳細は予約表をご確認下さい。12/29-1/3は完全閉鎖です。どうぞよろしくお願いいたします。

 

2017.08.28

9月3日(日)の全学停電により,一部の機器がご利用できません。詳細は予約表でご確認下さいますようお願いいたします。

 

機器リスト1(電子顕微鏡)      ▶▶▶ リスト2へ   ▶▶▶ リスト3へ

画像をクリックすると拡大表示(主なスペック記載)されます。

300kV電界放射型透過型電子顕微鏡 日本電子 JEM-3200FS

電界放射型電子銃を搭載した加速電圧300kVの電子顕微鏡。ボトムマウントの2k x 2kのCMOSカメラを搭載。加速電圧100kVでの使用が可能。インカラム方式のエネルギーフィルターによる厚い試料の画像の鮮明化が可能。試料を三次元的に再構成する電子線トモグラフィーが可能。

 

担当 伊藤利章

200kV透過型電子顕微鏡 日本電子 JEM-2100

加速電圧200kVの透過型電子顕微鏡。サイドマウントの2k x 2kのCCDカメラを搭載。加速電圧80kVでの使用が可能。試料を三次元的に再構成する電子線トモグラフィーが可能。

 

担当 伊藤利章

クライオ高分解能走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-6701F

電界放射型電子銃を採用した高分解能な走査型電子顕微鏡。試料ステージ冷却(-180℃程度)による,凍結状態の試料観察が可能。クライオユニット内での凍結割断,マグネトロン方式のイオンスパッタリングが可能。

 

担当 安井雅範

高分解能走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-6301F

電界放射型電子銃を採用した高分解能な走査型電子顕微鏡。PC接続によるフィルムレス。

 

担当 安井雅範

低真空走査型電子顕微鏡 日本電子 JSM-5310LV

熱電子銃を搭載した汎用性の高い走査型電子顕微鏡。反射電子検出器による低真空下での観察が可能,非導電性試料をそのまま観察可能。PC接続によるフィルムレス。

 

担当 安井雅範

機器の故障・メンテ情報等

 

2018.05.18

クライオ走査型電子顕微鏡(JSM-6701F)は,故障のため利用できません。修理日程については調整中。

 

2018.01.25

1月26日(金)〜29日(月)の期間,電界放射型透過型電子顕微鏡(JEM-3200FS)は整備のため利用できません。

 

2017.12.22

リアルタイムPCR(ROCHE LightCycler480)の修理は完了いたしました。本日より利用可能です。

 

 

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当センターが所有するゴールド標識二次抗体,蛍光標識二次抗体等の無料貸し出しの情報を掲載します。当センターの利用を条件とします。

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