お知らせ・新着情報

2017.08.28

9月3日(日)の全学停電により,一部の機器がご利用できません。詳細は予約表でご確認下さいますようお願いいたします。

 

2017.05.30

「クライオ走査型電子顕微鏡の基本的な操作法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。

 

2017.05.26

「超薄・準超薄切片作製法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。

 

2017.02.07

利用案内_機器リスト2(超解像顕微鏡等)の超解像顕微鏡(Leica TCS SP8 STED 3X)と共焦点レーザー顕微鏡(Leica TCS SP5)の主なスペック欄に対物レンズの仕様を記載しました。

 

機器の情報

 機器の型式等の情報を以下の通りまとめましたので,論文等の投稿で必要な場合はご活用下さい。また,必要な情報は順次掲載しますので,知りたい情報は職員へお問い合わせ下さい。


300kV電界放射型透過型電子顕微鏡

本体  型式 JEM-3200FS  メーカー JEOL

カメラ 型式 TemCam-F216  メーカー TVIPS(Tietz Video and Image Processing Systems)

200kV透過型電子顕微鏡

本体  型式 JEM-2100 メーカー JEOL

カメラ 型式 VELETA  メーカー OSIS(Olympus Soft Imaging Solutions)

クライオ高分解能走査型電子顕微鏡

本体       型式 JSM-6701F メーカー JEOL

クライオユニット 型式 ALTO2500   メーカー Gatan

高分解能走査型電子顕微鏡

本体  型式 JSM-6301F メーカー JEOL

低真空走査型電子顕微鏡

本体  型式 JSM-5310LV メーカー JEOL

超解像顕微鏡

本体  型式 TCS SP8 STED 3X メーカー Leica Microsystems

共焦点レーザー顕微鏡

本体  型式 TCS SP5 メーカー Leica Microsystems

高圧凍結装置

本体  型式 EM PACT2 メーカー Leica Microsystems

凍結置換装置

本体  型式 EM AFS2 メーカー Leica Microsystems

ウルトラミクロトーム1

本体  型式 EM UC7 メーカー Leica Microsystems

ウルトラミクロトーム2

本体  型式 ULTRACUT S メーカー Leica Microsystems

ウルトラミクロトーム3

本体  型式 ULTRACUT N メーカー Reichert Nissei

回転式ミクロトーム

本体  型式 RM 2255 メーカー Leica Microsystems

凍結ミクロトーム

本体  型式 CM 3050S メーカー Leica Microsystems

凍結割断レプリカ装置

本体  型式 JFD-9010 メーカー JEOL

イオンスパッター

本体  型式 E101 メーカー HITACHI

マグネトロンスパッター

本体  型式 E-1030 メーカー HITACHI

カーボンコーター

本体  型式 VC-100 メーカー VACUUM DEVICE

臨界点乾燥器

本体  型式 EM CPD300 メーカー Leica Microsystems (2016.09.01以降)

本体  型式 HCP-2   メーカー HITACHI (2016.09.01以前)

凍結乾燥器

本体  型式 ID-2 メーカー Eiko

真空蒸着装置

本体  型式 JEE-4X メーカー JEOL

機器の故障・メンテ情報等

 

2017.11.15

11月29日(水),共焦点レーザー顕微鏡(TCS SP5)は,保守点検のため利用できません。

 

2017.09.28

10月中旬〜下旬の期間,透過・走査型電子顕微鏡の保守整備のため,対象機器の利用ができません。詳細なスケジュールは予約表1をご覧ください。

 

2017.07.25

8月1日(火)午後,共焦点レーザー顕微鏡(TCS SP5)は,検出器の点検作業のため利用できません。

 

 

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