2017.08.28
9月3日（日）の全学停電により，一部の機器がご利用できません。詳細は予約表でご確認下さいますようお願いいたします。
2017.05.30
「クライオ走査型電子顕微鏡の基本的な操作法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。
2017.05.26
「超薄・準超薄切片作製法」の講習会を実施いたします。詳細は「講習会のご案内」をご覧下さい。
2017.02.07
利用案内＿機器リスト２（超解像顕微鏡等）の超解像顕微鏡（Leica TCS SP8 STED 3X）と共焦点レーザー顕微鏡（Leica TCS SP5）の主なスペック欄に対物レンズの仕様を記載しました。
機器の型式等の情報を以下の通りまとめましたので，論文等の投稿で必要な場合はご活用下さい。また，必要な情報は順次掲載しますので，知りたい情報は職員へお問い合わせ下さい。
300kV電界放射型透過型電子顕微鏡
本体 型式 JEM-3200FS メーカー JEOL
カメラ 型式 TemCam-F216 メーカー TVIPS（Tietz Video and Image Processing Systems）
200kV透過型電子顕微鏡
本体 型式 JEM-2100 メーカー JEOL
カメラ 型式 VELETA メーカー OSIS（Olympus Soft Imaging Solutions）
クライオ高分解能走査型電子顕微鏡
本体 型式 JSM-6701F メーカー JEOL
クライオユニット 型式 ALTO2500 メーカー Gatan
高分解能走査型電子顕微鏡
本体 型式 JSM-6301F メーカー JEOL
低真空走査型電子顕微鏡
本体 型式 JSM-5310LV メーカー JEOL
超解像顕微鏡
本体 型式 TCS SP8 STED 3X メーカー Leica Microsystems
共焦点レーザー顕微鏡
本体 型式 TCS SP5 メーカー Leica Microsystems
高圧凍結装置
本体 型式 EM PACT2 メーカー Leica Microsystems
凍結置換装置
本体 型式 EM AFS2 メーカー Leica Microsystems
ウルトラミクロトーム１
本体 型式 EM UC7 メーカー Leica Microsystems
ウルトラミクロトーム２
本体 型式 ULTRACUT S メーカー Leica Microsystems
ウルトラミクロトーム３
本体 型式 ULTRACUT N メーカー Reichert Nissei
回転式ミクロトーム
本体 型式 RM 2255 メーカー Leica Microsystems
凍結ミクロトーム
本体 型式 CM 3050S メーカー Leica Microsystems
凍結割断レプリカ装置
本体 型式 JFD-9010 メーカー JEOL
イオンスパッター
本体 型式 E101 メーカー HITACHI
マグネトロンスパッター
本体 型式 E-1030 メーカー HITACHI
カーボンコーター
本体 型式 VC-100 メーカー VACUUM DEVICE
臨界点乾燥器
本体 型式 EM CPD300 メーカー Leica Microsystems （2016.09.01以降）
本体 型式 HCP-2 メーカー HITACHI （2016.09.01以前）
凍結乾燥器
本体 型式 ID-2 メーカー Eiko
真空蒸着装置
本体 型式 JEE-4X メーカー JEOL
2017.07.25
8月1日（火）午後，共焦点レーザー顕微鏡（TCS SP5）は，検出器の点検作業のため利用できません。
2017.04.25
臨界点乾燥装置（EM CPD300）の修理は，4月27日（木）になりました。
2017.04.20
臨界点乾燥装置（EM CPD300）は，故障のため利用できません。修理は，4月28（金）の予定です。
当センターが所有するゴールド標識二次抗体，蛍光標識二次抗体等の無料貸し出しの情報を掲載します。当センターの利用を条件とします。
当センターで撮影された電顕・光顕画像を掲載しております。